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冠亚恒温小编为大家解析 GD 系列老化测试箱的宽温域芯片测试能力。半导体芯片在实际使用中可能面临从低温到高温的宽温域环境,GD 系列设备通过不同型号的温度区间配置,覆盖常温至 + 150℃、-20℃至 + 150℃、-40℃至 + 150℃三个温度范围,适配不同芯片的宽温域测试需求。

GD-518-A-DC 与 A-2-DC 型号的温度范围为常温 + 10℃至 + 150℃,适配高温老化测试场景,可模拟芯片在高温工作环境下的运行状态,验证芯片的耐高温性能与长期稳定性。升温速率为常温 + 10℃至 + 125℃线性 2℃/min,降温速率为 + 125℃至常温 + 10℃线性 2℃/min,可实现快速温变测试,模拟芯片开关机过程中的温度变化。
GD-518-B1-DC 型号的温度范围为 – 20℃至 + 150℃,适配中低温至高温的宽温域测试场景,可模拟芯片在不同温度环境下的性能表现,验证芯片的温度适应性。制冷方式采用单级制冷,可稳定实现 – 20℃低温输出,配合电加热系统,实现宽温域温度控制。

GD-518-B-DC 与 B-2-DC 型号的温度范围为 – 40℃至 + 150℃,适配超低温至高温的ji端宽温域测试场景,可模拟芯片在严寒与高温环境下的工作状态,验证芯片的ji端环境耐受性。制冷方式采用复叠制冷,可稳定实现 – 40℃超低温输出,配合gao效电加热系统,实现宽温域温度控制,升降温速率均为线性 2℃/min,可满足快速温变测试需求。
不同型号的宽温域配置可根据芯片的实际使用环境选择,如消费电子芯片可选用常温至 + 150℃型号,汽车电子芯片可选用 – 40℃至 + 150℃型号,工业级芯片可根据需求选择对应型号。设备的温度均匀度≤±3℃(满载 10kW),可保障箱内不同位置的芯片处于相同的温度环境,减少测试偏差。
GD 系列老化测试箱通过宽温域型号配置,为不同类型的半导体芯片提供了适配的宽温域测试解决方案,助力芯片可靠性验证。

product & project 本电池试验箱是专门针对不同种类的动力电池测试需要,在标准环境箱的基础上,根据不同的严酷等级配备安全防护功能,一定程度保证⼈员,财产及设备的安全。 25000㎡生产车间 超3亿年产值 16000+服务客户提供控温解决方案 高精度控制温度范围:-40℃~100℃ (-70℃可定制) 高设计标准升温速率:(…
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