宽温域芯片测试：GD 系列老化测试箱解析

2026 年 5 月 18 日 2

冠亚恒温小编为大家解析 GD 系列老化测试箱的宽温域芯片测试能力。半导体芯片在实际使用中可能面临从低温到高温的宽温域环境，GD 系列设备通过不同型号的温度区间配置，覆盖常温至 + 150℃、-20℃至 + 150℃、-40℃至 + 150℃三个温度范围，适配不同芯片的宽温域测试需求。

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