AES系列射流式高低温冲击测试机在电子元器件可靠性评估中的作用

2026 年 6 月 11 日 28

电子元器件在不同温度条件下可能出现参数漂移、连接异常、封装应力变化和功能不稳定等现象。无锡冠亚AES系列射流式高低温冲击测试机可为电子元器件提供-120℃〜+300℃的快速温度环境，并通过±0.1℃控温精度和被测对象温度反馈，提高测试过程的可控性。本文围绕电子元器...

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