功率器件老化验证：芯片老化测试箱应用

2026 年 5 月 19 日 77

冠亚恒温小编介绍芯片老化测试箱在功率器件老化验证中的应用。功率器件（MOSFET、IGBT、SiC 器件等）工作电流大、发热高，长期运行面临热疲劳、电迁移、封装老化等风险，需通过老化验证可靠性与寿命。

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±0.1℃控温精度：芯片老化测试箱温控特点

2026 年 5 月 18 日 79

冠亚恒温小编为大家说明芯片老化测试箱的 ±0.1℃控温精度特点。芯片老化测试对环境温度的稳定性要求较高，温度波动会直接影响测试结果的准确性，设备通过多项技术优化，实现出风口控温精度 ±0.1℃，温度均匀度≤±3℃，保障测试环境温度的稳定性。

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芯片老化测试箱技术特点与应用有哪些？

2026 年 4 月 7 日 159

芯片老化测试箱还可用于集成电路、传感器等电子元器件的高低温老化测试，为元器件选型、产品可靠性评估提供数据支撑。

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