±0.2℃控温精度：接触式高低温测试机温控参数详解

2026 年 6 月 17 日 27

±0.2℃是 KSD、KSDR 接触式高低温测试机统一稳态控温指标，代表载台表面、芯片接触点位长期恒温的温度波动范围，直接决定半导体各类温度验证实验的数据重复性。

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