芯片恒温老化测试设备在研发量产应用的质量保障体系

2025 年 7 月 25 日 23

在芯片从设计到量产的全流程中，可靠性评估是保障其长期稳定运行的核心环节之一。芯片恒温老化测试设备通过构建可控的恒温环境，模拟芯片在长期使用中的工作状态，加速潜在问题暴露，为生命周期评估提供数据支撑。

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