芯片加速老化测试：Chamber 试验箱技术解析

2026 年 5 月 19 日 20

冠亚恒温小编解析 Chamber 试验箱在芯片加速老化测试中的技术逻辑。加速老化通过提高温度、偏置或湿度等应力水平，缩短老化周期，在可控时间内评估芯片长期可靠性，替代自然老化的漫长周期。

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