国产热流仪露点指标能做到≤-40℃适配高压芯片吗?
9碳化硅、IGBT高压功率器件测试,对送风露点要求严苛,露点超标较易引发引脚打火、高压击穿、漏电失效。行业普遍存在刻板印象,认为只有进口热流仪才能做到≤-40℃低露点送风,国产设备除湿能力偏弱,zui低只能做到-25℃左右,无法适配高压半导体工况。
查看全文全站搜索
碳化硅、IGBT高压功率器件测试,对送风露点要求严苛,露点超标较易引发引脚打火、高压击穿、漏电失效。行业普遍存在刻板印象,认为只有进口热流仪才能做到≤-40℃低露点送风,国产设备除湿能力偏弱,zui低只能做到-25℃左右,无法适配高压半导体工况。
查看全文算力芯片热冲击老化测试,需要长期满速60℃/min冷热换向循环,很多产线运维心存顾虑,极速气流瞬时换向冲击力较强,长期高频运转会不会磨损密封结构、损坏冷热换向挡板。行业流传养护误区,认为极速工况必须降速运行,否则半年就会出现挡板卡顿、漏风故障。
查看全文半导体热流仪属于精密温控测试仪器,精密传感器、换向挡板、制冷回路、干燥模组耐受工况有限,相比于冷水机、试验箱故障率更高;很多产线重使用、轻维保,出现运行半年温漂变大、风道堵塞、换向卡顿、电控报错问题,返修周期长、停机损耗高。
查看全文很多半导体实验室新进运维、测试工程师,上手热流仪容易出现开机报错、测温漂移、气流烫伤、芯片凝露烧毁问题;究其原因,热流仪温控逻辑、送风操作和普通检测设备差异较大,流程顺序颠倒、工装对位偏差,直接造成测试失效。
查看全文