半导体高低温老化测试箱从温域范围到性能参数的选型技术指南

2025 年 7 月 25 日 24

在半导体器件生产流程中，高低温老化测试通过模拟苛刻温度环境，可加速暴露器件潜在问题，为质量筛选提供依据。半导体高低温老化测试箱的选型需结合测试需求与设备性能，从温域覆盖、控温精度到结构设计进行系统性考量，以确保测试结果的准确性与重复性

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